如何测量偏振相关损耗

极化合成器
+ 极化 合成器

表征偏振依赖性透射特性

偏振相关损耗测试用于测量随着光在被测器件中的偏振态变化,插入损耗如何变化。该测量方法利用可调谐光源、受控偏振态生成以及同步光功率测量,比较不同偏振态下的透射光功率,并计算偏振相关损耗。

测试配置必须包括偏振态控制、光信号路由、同步光功率采集以及波长扫描,以表征偏振敏感性。工程师利用所得测量结果,通过确定最大和最小透射条件,对光学滤波器、复用器、波长选择性器件及其他偏振敏感元件进行评估。

偏振相关损耗测量解决方案

要测量偏振相关损耗,需要控制偏振态并进行同步的光功率测量,以确定插入损耗随偏振变化而变化的情况。 是德科技(Keysight)的偏振相关损耗测量解决方案集成了可调谐激光器、偏振合成器、多端口光功率计和光开关,可自动控制偏振状态、路由光信号,并在多种偏振状态下捕获可重复的光功率测量数据。这些仪器 共同用于表征光滤波器、复用器、波长选择性器件及其他无源光器件的偏振灵敏度,同时提高测量重复性并减少手动测试设置。

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