如何测量射频设计中的杂散发射

基础 分析仪
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测量低电平射频杂散信号

要识别杂散发射,需要测量被测设备在规定频率范围内的频率谱。通过将基波信号与谐波及其他不需要的频谱响应进行比较,可以揭示其频率和幅度,并提供在选定的测量范围内表征杂散行为所需的测量数据。

频谱分析仪会扫描选定的频率范围,并测量信号功率随频率的变化情况。工程师可以调整分辨率带宽以区分低电平和间隔紧密的信号,利用峰值搜索和频率标记定位单个响应,并分析所得的频谱曲线,从而在一致的测量条件下表征基波、谐波和杂散信号。

杂散发射测量解决方案

测量杂散发射需要进行频域测量,该测量需具备足够的频率覆盖范围、灵敏度和分辨率,以便将不需要的响应与基波信号和显示的噪声底区分开来。是德科技基础 信号分析仪可测量频率、功率、谐波和杂散信号,频率范围最高可达20 GHz(具体取决于型号)。 工程师可以将分辨率带宽调整为 10 Hz 至 3 MHz 之间,以分析低电平和间隔紧密的信号;利用峰值搜索和标记功能定位响应并测量其频率和幅度;并应用窗限值进行频率和功率的合格/不合格评估。综合运用这些测量方法,可为在选定频率范围内表征杂散响应提供一种可重复的方法。

参见杂散发射测量解决方案的框图

如何测量射频设计中的杂散发射——功能框图

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