如何在设计阶段进行频率扫描测试

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表征设计范围内的频率响应

频率扫描测试通常在设计阶段使用，其原理是在预定义的频率范围内施加频率变化的激励信号，并观察电路在输入信号遍历该范围时的响应情况。该测试通常需要使用矢量信号发生器生成扫描信号，并借助测量仪器记录频率变化时增益、衰减、谐振或其他响应参数的变化。

将扫频信号施加到被测设备上，同时使用示波器、分析仪或其他测量仪器记录扫频过程中的输出行为。在设计阶段的特性分析中，若需要时序对齐或相关激励，双通道操作还可支持相关的参考信号或触发信号。

频率扫描设计方案

进行频率扫频测试需要一个可控的激励源，该激励源能够在定义的范围内改变频率，同时保持可重复的输出条件以供测量。专业 波形与函数发生器 通过生成扫频信号和任意波形波形与函数发生器 这一工作流程，这些信号和波形可在设计特性分析过程中进行整形、序列化和回放。 双通道输出、120 MHz 带宽、任意波形生成能力、序列支持以及 1 GSa/s 的采样率，使该方案非常适合基于扫频的响应分析。这有助于工程师在早期设计工作中，于受控的台式测试环境下观察增益变化、通带特性、谐振及滚降特性。
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参见频率扫描设计方案的框图

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