如何测试相控阵天线

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使用网络分析仪和信号发生器测试相控阵天线

采用高精度校准测试相控阵天线需要进行球面天线辐射图测量。单一测试平台集矢量网络分析仪（VNA）、矢量信号发生器（VSG）、紧凑型天线测试罩（CATR）及多种仪器软件 既能实现广泛测量需求，又可简化校准与测试设置流程。 矢量信号发生器在高频载波下提供所需的宽带调制信号，高速数字控制系统则与相控阵天线对接。可编程仪器 标准命令仪器 SCPI）解析器将波束成形电路整合至测试系统中。

矢量网络分析仪结合CATR和硬件在环测试方法，通过应用矢量误差校正和进阶 ，提供了必要的测量精度水平。 矢量网络分析仪软件应用支持增益压缩、增益噪声温度比（G/T）及低残余误差矢量幅度（EVM）测量。这些测量对于快速准确地完成有源电子扫描阵列（AESA）校准及波束成形性能验证至关重要。

相控阵天线校准与测试解决方案

相控阵天线的测试需要高精度校准和全面的球面辐射图测量。是德VXG 信号发生器提供高输出功率与超低相位噪声，而紧凑型天线测试场可将有源相控阵天线与外部干扰源隔离。 CATR配备定位器，可测量远场球面角度函数下的辐射特性。PNA矢量网络分析仪集双内置信号源、信号合成器、噪声接收器及灵活的开关与射频接入点于一体，单台仪器即可完成广泛的线性与非线性测量。天线测量软件提供辐射图测量、相控阵天线控制及校准功能。PNACATR双线性馈源天线的两个端口采集矢量天线辐射图数据。该系统可快速测量相控阵的波束成形特性，对比校准前后的辐射性能。关键指标包括：有效各向同性辐射功率、辐射图随波束扫描角度变化、波束扫描范围、损耗、交叉极化隔离度、增益压缩、G/T值及EVM。
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