如何消除被测设备的尖峰和噪声

旗舰 模拟信号发生器
+ 旗舰 模拟信号发生器

更清晰地查看被测设备的测试结果

射频器件特性分析利用受控的射频激励信号,对被测器件产生的低电平杂散响应、近端噪声、转换产物以及失真伪影进行评估。该测试系统通常包括一台频谱纯净的信号发生器、经过校准的连接线或滤波器,以及一台信号分析仪或测量接收机,用于观察输出频谱。

根据所需的载波频率、输出电平和频谱纯度配置信号源,然后将其施加到被测设备上。低相位噪声、低残余频率调制以及较低的杂散成分有助于限制由信号源引起的伪影,从而更容易将设备产生的响应与激励相关的影响区分开来。

被测设备(DUT)的刺点可视化解决方案

射频元件特性分析需要纯净的激励信号以及能够分辨低电平频谱伪影的测量路径。该解决方案采用高频谱纯度信号发生器对被测设备进行激励,同时限制与信号源相关的相位噪声、残余频率调制和杂散成分。 工程师可以观察到来自混频器、放大器、转换器或信号链元件的近端噪声、低电平杂散、转换产物和失真响应。当需要在受控的射频条件下测量微小的频谱差异时,该设置有助于将被测设备(DUT)产生的伪影与信号源引起的影响区分开来。

参见被测设备干扰可见性解决方案的框图

如何揭示被测设备的尖峰和噪声功能块图

探索我们“被测设备(DUT)激励信号可视化”解决方案中的产品

联系我们 标识

联系我们的专家之一

需要帮助找到适合您的解决方案吗?