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高效的晶圆级测试
光器件可以提高数据中心基础设施的设计裕量，并实现低能耗的目标，但是在数据速率越来越高的趋势下，它们正承受着巨大的压力。 各种形式的器件集成日益增多。
- 集成光电技术趁势兴起，它们通过将各种光器件集成为一体，可以增加平行光通道的数量
- 光集成电路（PIC）技术是集成和一体化封装硅电器件与光器件的基础
- 芯片制造商转向销售裸片（而非经过封装的器件），由下游工程师将这些裸片进一步集成到多裸片设计中。
- 这样便出现了一个商机――对已知合格裸片进行质量鉴定
- 从长期来看，器件集成之后，工程师就无法接触到其中的单个器件进行测试。 因此需要开发新的方法来测试包含多个裸片的集成器件
是德科技为硅光晶圆测试提供了完整的解决方案：
- 利用可调谐激光源、偏振合成器、多端口功率计和装有应用软件的源表模块进行波长和偏振相关测量
- 利用是德科技光波器件分析仪执行射频测试
- 利用 FormFactor 探针台进行自动晶圆探测
利用测试自动化加快测试速度
是德科技提供了以下产品，帮助您缩短测试时间并降低测试成本：
- KS8400A PathWave 自动测试平台（TAP），您可以通过它选择各种测试组合，定义和执行测量计划
- 包含 TAP 插件的自动光通信应用套件
- N7700210C 晶圆探针台插件，您可以利用它自动控制晶圆探测台
- N4370P01A LCA TAP 插件，与光波器件分析仪（LCA）配合使用，可自动执行光/电和电/光测量
一站式晶圆生产测试
是德科技还为测试工程师提供了强大的解决方案，协助他们使用全自动晶圆探针台进行硅光晶圆生产测试：
- 一站式综合解决方案
- 自动一次通过测试
- 量产准备
- 高吞吐量测试
- 保证的系统性能
- 专用支持型号
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利用 TAP 更简单地实现 LCA 射频/光测量自动化
允许使用 PAS LS 引擎和 PAS IL/PDL 引擎进行偏振相关的扫描波长多通道测量，以及使用 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎在不改变偏振的情况下进行测量。
轻松将晶圆探针台控制程序整合到 TAP 测试序列中，提供全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案。
Test sequencer software with timing analyzer, result viewer, and other useful tools for test automation development.
允许使用 PAS 测量引擎进行插入损耗和偏振相关损耗谱分析，从而根据 ITU-T 的定义确定通带滤波器的技术指标参数。 也可应用于 800 GHz LAN-WDM 网格。 还可确定滤波器通带的偏振相关频移。
允许您使用 N7788C 和 PAS LS 引擎对差分群时延（DGD）、偏振模色散（PMD）、IL（以及 TE/TM 偏振）和 PDL 进行扫描波长测量。
允许使用 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎进行快速扫描波长多通道测量。
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查找适合自己的解决方案套件
是德科技提供了特别有吸引力的硬件/软件/服务套件，全方位满足您的特定要求：
S2501A 无源光器件测试工具套件（包含调谐元件的无源器件）
S2502A 光接收机器件测试工具套件（仅直流）
S2503A 光接收机和调制器测试工具套件（直流和射频）
S2504A 光调制器测试工具套件（直流和射频）
S2505A 光双偏振 IQ 调制器在片测试工具套件（直流和射频）
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