这是您想要的页面. 查看搜索结果:

特点

  • 光束
    • 直径：6 mm（0.24 英寸）
    • 间距：11 mm（0.43 英寸）
  • 分辨率
    • 基本光学：λ/2（316.5 nm，12.5 µin）
    • 系统分辨率：
       - λ/64（10 nm，0.4 µin），使用 32 倍电子分辨率扩展 
       - λ/512（1.2 nm，0.047 µin），使用 256 倍电子分辨率扩展
  • 重量：312 g（11 盎司）
  • 需要的反射器：10767A
  • 使用的安装架座：10785A

Keysight 10766A 线性干涉仪适用于一般的单轴测量；也可以用于干涉仪是运动部件（而不是测量反射器）的应用。 它配有坚固、耐热的不锈钢外壳。

在光学结构上与 10702A 选件 001 相同， 但 10766A 配有更坚固的外壳和公制螺纹。

10766A 需要一个 10767A 线性反射器作为参考反射器使用。 完整的线性测量光纤套件还包含另一个 10767A 或更轻巧的 10703A（注意，55280B 线性测量套件包含所需的全部光器件以及安装硬件）。 干涉仪可以用于使光束转向。 它无需经过任何修改，便可用作运动元件。

进行差分操作时，需要去掉 10767A 线性反射器，并将其连接到指定的参考面。

了解关于激光干涉仪位置测量系统的更多信息

主要技术指标

下载技术资料
查看更多

想要深入了解 10766A？

扩展线性干涉仪的功能

软件
查看所有软件
附件
查看所有附件
服务
查看所有服务
支持
查看所有支持

关于 10766A 线性干涉仪的特色资源

Data Sheets 2020.08.13

5530 Dynamic Calibrator

5530 Dynamic Calibrator

System and Component Specifications for 5530 Laser Calibration System.

2020.08.13

Technical Overviews 2017.03.26

5530 Laser Calibration System

5530 Laser Calibration System

Sales brochure for 5530 Laser Calibration System, for laser-based machine tool calibration.

2017.03.26

Data Sheets 2014.08.02

55280A Linear Measurement Kit

55280A Linear Measurement Kit

Linear measurement are made at multiple points along a machine’s travel path to measure linear displacement and velocity. Accuracy along an axis could be improved via the use of compensation table.

2014.08.02

Product Fact Sheets 2014.08.02

Laser Interferometer Measurement Optics

Laser Interferometer Measurement Optics

Keysight offers a wide selection of measurement optics. The selection depends on the reflector type, optical resolution, possible relative velocity and the angular range of the measurement reflector.

2014.08.02

Data Sheets 2014.08.02

10768A Diagonal Measurement Kit

10768A Diagonal Measurement Kit

10768A is designed for use with Keysight 5530 Dynamic Calibrator system. Measurement include long term drift tests provides quick assessment of volumetric performance of a machine tool or CMM.

2014.08.02

查看所有资源

查看所有资源

需要帮助或遇到问题？

联系我们