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以精准和可控的方式测试智能卡安全性
智能卡、安全元件及类似的安全关键型设备旨在保护敏感资产免受逻辑攻击和物理攻击。评估这些保护措施的有效性，通常需要在安全关键型操作过程中能够注入精确且可重复的故障。智能卡安全测试 可帮助安全工程师评估设备在故障注入攻击下的韧性，验证已实施的应对措施，并在产品上市前识别漏洞。
生成精确的故障条件
自动化安全评估
验证智能卡反制措施
支持集成测试工作流
在统一的测试环境中整合故障注入硬件、触发、自动化和分析功能。
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(SPD) N6700 产品类型
智能卡电压和时钟毛刺发生器
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输入电压范围
-7.4 V 至 +4.2 V
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最大电压
8.5 V
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技术
设备安全
最受欢迎的配置
智能卡电压和时钟干扰发生器
DS1160A 智能卡电压和时钟干扰器采用超高速 FPGA 技术，可通过完全可编程的硬件生成 2 纳秒的故障。
DS1160A 智能卡电压和时钟干扰器采用超高速 FPGA 技术，可通过完全可编程的硬件生成 2 纳秒的故障。
智能卡电压和时钟干扰发生器
DS1160A 智能卡电压与时钟干扰器采用超快 FPGA 技术，可生成 2 纳秒的故障信号，并具备完全可编程的信号模式和控制逻辑。DS1160A 集成了用于产生电压和时钟干扰的电路，并配备一个输出通道，用于控制 DS1101A 故障注入激光系统上的光脉冲。
- 利用集成数字信号发生器中的FPGA技术生成极短的毛刺，以实现极具挑战性的测试
- 使用扰动指令集轻松创建任何测试场景
- 通过准确记录智能卡的行为来重现测试
- 通过对大量扰动参数进行自动化测试，缩短测试时间
- 与 DS1002A 基于波形的触发器发生器和 DS1101A 故障注入激光系统无缝集成
- 使用可调限流器防止电路板损坏
- 通过一致且全面的扰动测试，实现高水平的可靠性保障，且无需拆封芯片
白皮书
从经典智能卡到集成安全元件
理解供应商在将安全元件集成到片上系统（SoC）以替代传统智能卡时需要考虑的关键因素。
服务 支持
通过精心策划的支持方案、优先响应机制和快速周转时间，实现高效创新。
获取可预测的租赁式订阅服务和全生命周期管理解决方案——助您更快达成业务目标。
KeysightCare ，享受卓越服务，获得专属技术响应等更多权益。
确保您的测试系统符合规格要求，并满足本地及全球标准。
通过内部讲师指导的培训和在线学习，快速掌握测量技能。
下载是德科技软件或将您的软件更新至最新版本。
常见问题解答
智能卡安全测试 用于评估智能卡、安全元件或类似的安全关键设备能否抵御故障注入和侧信道分析等物理攻击。其目的是在部署前识别漏洞、验证安全对策并提高设备的抗攻击能力。
智能卡通常存储加密密钥、支付凭证、身份数据和认证密钥等敏感资产。由于它们保护着高价值信息，因此经常需要针对旨在绕过安全机制或改变设备行为的故障注入攻击进行评估。
故障注入是指在智能卡运行过程中有目的地引入异常状况。通过在特定时刻干扰电源、时钟信号或其他设备参数，安全工程师可以研究设备如何响应，并判断是否存在可被利用的漏洞。
许多智能卡操作的执行速度极快。纳秒级的时间控制使评估人员能够精确定位特定的指令、加密计算或安全检查，从而提高攻击的有效性和可重复性。
是的。DS1160A 与 Inspector 软件集成，支持自动化、参数探索、测试方案管理、结果分析以及可重复的故障注入工作流。