如何利用高通道密度示波器实现制造过程的“通过/不通过”测试自动化

+ 基础示波器

验证生产测试点间的信号质量

要实现制造过程的“通过/不通过”测试自动化，需要在多个测试点进行一致的测量检查，同时识别那些可能仅在特定生产序列中才会出现的缺陷。在装配线上，工程师需要在同一个测试周期内监测电源、控制、时序和输出信号，以确定电子组件是否符合既定的质量要求。若单独测试这些信号，则难以确定故障根源，特别是在意外事件仅发生一次或取决于其他信号时序的情况下。高通道密度测量方法使工程师能够在同一生产周期内监测多个信号，而同步的示波器可随着测试点数量的增加而扩展覆盖范围。这提供了调查电源瞬变、缺失使能信号、响应延迟以及信号质量问题所需的时序背景信息。

执行该测试需要一台能够自动采集波形并在多个测试点进行通过/失败判定测量的示波器。当需要更大的通道覆盖范围时，工程师可通过共享参考时钟和协调触发，将额外的示波器进行同步。制造测试程序负责管理自动测试序列和整体通过/失败判定标准，而示波器则在每个生产周期中捕获波形。当使用多台仪器时，实时分析软件会将同步的模拟通道整合到统一的显示界面中，使工程师能够将测试失败的结果与组件其他部位先前信号的行为建立关联。内置工具（如掩模测试和故障查找）有助于识别波形偏差和间歇性信号问题，而通过可编程仪器标准命令（SCPI）对示波器进行远程控制，则将数据采集功能集成到生产测试程序中。这种方法支持可重复的生产测试，并帮助工程师更高效地排查故障。

制造测试自动化解决方案

要实现制造过程的通过/失败测试自动化，需要一款具备可重复信号采集、波形限值测试和远程控制功能的示波器。是德科技基础系列（示波器）在每1U机架空间内集成了14位模数转换器（ADC）和四个模拟通道，同时通过无源探头从电子组件上的多个测试点采集电压信号。内置的掩码测试功能会自动将捕获的波形与预定义的限值进行比较，以识别信号偏差并确定波形级别的通过/失败结果；而Fault Hunter 则根据用户定义的标准评估信号特性，从而检测、捕获并调查那些否则可能被忽略的间歇性异常。

随着通道需求增加，工程师可添加同步的示波器，通过共享的10 MHz参考时钟、协调触发以及跨仪器去偏移功能，来保持整个示波器系统中的时序关系。基于PC的实时分析软件可整合来自多台示波器的模拟波形，以进行同步的多信号审查，而远程SCPI控制则将采集和测量功能集成到生产工作站中。制造测试程序负责管理测试序列，并确定最终的装配级合格/不合格结果。这些功能共同支持在紧凑型自动测试设备（ATE）中进行可重复的质量检查和高效的故障排查。

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