如何测试宽禁带半导体

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半导体 双脉冲测试表征WBG半导体

宽禁带（WBG）半导体材料（如氮化镓GaN）需同时测试静态与动态参数，以避免开关瞬态过程中的损耗。双脉冲测试（DPT）系统可依据JEDEC标准对半导体进行动态测试，包括导通、关断、开关、反向恢复及栅极电荷等测试项目。

DPT系统应包含仪器设备、探头、安全系统、自动化控制软件、自动校准程序、测试夹具以及适用于不同设备配置的测试板。同时需配备负载电感器。设备安装完毕后，在软件的硬件配置菜单中输入电路板参数，并指定所需外部电感器及其数值。随后设置R²GC电流传感器。完成上述步骤后，选择待测设备以配置测试方案。

双脉冲测试溶液

采用半自动校准方法和测量技术执行双脉冲测试（DPT）。是德科技动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一款一体化测试解决方案，可对宽禁带（WBG）（SiC、GaN）功率半导体动态特性进行可靠、可重复的测量，以符合JEDEC规范要求。 包含以下测量技术：探针补偿、偏移调整、去偏移校正及共模噪声抑制。 
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