如何表征VCSEL的动态脉冲特性

模块化 PXIe 高精度 SMU
+ 模块化 PXIe 高精度 SMU

动态VCSEL脉冲响应特性分析

垂直腔面发射激光器(VCSEL)的脉冲特性分析需要在施加受控电流脉冲的同时,测量整个脉冲间隔内器件的电流和电压。测量系统必须具备足够的采样速度,以分辨上升沿、脉冲区域和下降沿,从而能够在狭窄的测量窗口内观察到器件行为的变化。

高速采样可捕获实际施加到器件上的电流脉冲及其动态电压响应。测量范围可从瞬态区域一直延伸至脉冲平台期,从而评估电学特性随时间和电流水平的变化情况。捕获的波形提供了与时间相关的数据,用于在光-电流-电压(LIV)特性分析过程中分析脉冲波形和器件的动态行为。

动态VCSEL脉冲表征解决方案

动态VCSEL表征需要捕获整个窄脉冲过程中的电流和电压测量数据,而非仅依赖单个测量点。是德科技精密PXIe源/测单元(SMU)集成了高达15 MSa/s的高速测量能力,可捕获实际的电流脉冲输出以及瞬态区域内的动态VCSEL响应。 其内置的测量功能可直接记录波形,无需额外仪器进行波形捕获。结合低至 10 µs 的窄脉冲电流源功能,该解决方案使工程师能够分析脉冲上升时间、脉冲持续时间、瞬态响应,以及在施加电流脉冲期间器件特性的变化。

动态VCSEL脉冲表征解决方案的框图

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