如何生成用于设备测试的受干扰信号

索取报价

查看应用说明

+ 脉冲 发生器

生成受控的受损信号

当器件仅在特定的时序、电平、沿、噪声或抖动条件下才会出现故障时，受损信号测试就会变得困难。由于上游信号源、互连线路和器件输入都可能导致观察到的行为，因此完整的系统信号路径会使这些条件难以孤立分析。

测试首先采用已知的输入波形，然后逐一在器件输入端施加受控的干扰。工程师可以调整噪声、抖动、电压电平、边沿时序、脉冲特性或波形形状，同时监测器件的响应，从而确定是哪种信号状况导致了故障。

信号生成异常的解决方案

受损信号测试需要生成预期的输入激励信号，然后调整时序、电平、沿、噪声或抖动，以模拟标准和工作最差情况下的运行条件。该解决方案利用脉冲发生器，通过单一激励平台生成脉冲、模式、函数、任意波形以及基于噪声的测试信号。工程师可以进行可控抖动注入、生成带噪声的波形，并配置信号参数，以满足基带、高速串行和信号完整性测试场景的需求。该设置通过在功能验证过程中重现相同的受干扰波形，支持可重复的调试。

索取报价