如何表征多通道IV曲线

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+ 模块化 源表单元

多通道和动态IV的特性分析

多通道电流-电压（IV）特性分析需要同步的源和测量控制、灵活的扫描方法，以及跨多个器件节点的时域捕获。工程师可能需要同时进行主扫描、阶跃响应测量和窄脉冲测量，同时控制顺应性、测量范围、时序和建立时间，以确保各通道的电压和电流结果保持一致。

表征过程通常将静态电流-电压扫描与基于采样的测量相结合，以便在同一环境下观察瞬态响应和脉冲波形行为。此外，该过程还需借助图表和表格视图，以便在对半导体、光学器件、有源元件和无源元件进行测量后，比较各通道数据、验证时序、检查对数电流特性，并导出数值结果。

多通道 IV 特性分析解决方案

多通道 IV 特性分析需要同步的源表通道、扫描和采样控制，以及在静态和动态测量中对电流和电压行为的即时审查。是德科技的解决方案将 PZ2100 系列高通道密度精密源表 (SMU) 平台与 PW9251APathWave 曲线测量软件相结合，支持同步 IV 扫描、阶跃响应测量和脉冲波形捕获。该配置支持多达 20 个源表单元通道、预览时序验证、图表与表格分析、基于模数转换器的脉冲测量，以及无缝量程切换以实现更宽的动态范围。这些功能共同助力工程师无需定制编程即可执行复杂的 IV 测量，并快速查看结果。

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