如何测量高速设备的阶跃响应

PXIe 高精度 SMU
+ PXIe 高精度 SMU

捕获快速电压阶跃响应

阶跃响应测量需要施加受控的电压瞬变,并随时间采样由此产生的电压。在测量系统采集足够的时间域采样以分辨上升沿及随后的稳态行为的同时,电压源必须快速过渡到目标电压。测量时序、电压源量程、采样窗口和采集点均需根据预期的瞬态持续时间进行配置。

采集到的样本形成电压-时间波形,可用于评估过渡和稳态特性。处于数字化模式下的源量测单元(SMU)能够生成电压阶跃,并使用单一仪器捕获由此产生的瞬态波形。当需要进行额外的时间域验证时,可将测得的波形与示波器捕获的波形进行比较。

快速步进响应测量方案

要测量阶跃响应,需要施加快速电压瞬变,同时采集足够多的时域采样点以分辨上升沿和稳定过程。是德科技 PXIe 高精度源/测量单元将电压源功能与数字化测量能力相结合,以满足该工作流程的需求。它支持高达 1.25 MSa/s 的采样率和 1.4 V/µs 的最大压摆率。 本应用笔记演示了使用手动设置的 800 ns 采样窗口和 100 个采样点进行 40 V 阶跃响应测量。所得的电压-时间波形可直观显示瞬态响应,并可与示波器测量结果进行比较。

参见“快速阶跃响应测量方案”的框图

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