如何优化VCSEL脉冲性能

+ 模块化 PXIe 高精度 SMU

优化窄脉冲VCSEL的性能

垂直腔面发射激光器（VCSEL）的脉冲测试需要控制施加到被测设备（DUT）上的电流波形。实际输出脉冲会随被测设备的阻抗而变化，导致测得的波形与编程的源设置不一致。因此，需要直接在连接的设备上评估脉冲幅度、上升时间、稳态行为和脉冲波形，而不能仅根据配置的源参数进行推断。

该测试在施加窄脉冲电流的同时，捕获实际输出波形，并针对所连接的被测设备（DUT）调整信号源参数。工程师可以在调整设置的过程中比较脉冲响应，并验证所得波形是否具有预期的脉冲幅度和波形。该测量过程支持在不同阻抗条件下的VCSEL器件上进行可重复的脉冲特性分析。

优化VCSEL脉冲性能的解决方案

要优化VCSEL脉冲性能，需要测量实际电流波形，并根据被测设备（DUT）的阻抗调整源参数。是德科技精密PXIe源/测单元（SMU）提供了一项调谐工具，可调整SMU参数，以在不同的DUT阻抗条件下实现最佳脉冲性能。由于DUT阻抗可能会导致实际输出脉冲与预设值产生偏差，因此其内置的波形测量功能可直观显示输出的电流波形。是德科技精密 PXIe 源/测单元 (SMU) 还支持短至 10 µs 的窄脉冲电流源输出，以及高达 15 MSa/s 的嵌入式高速测量，从而可在同一测量平台内评估脉冲设置及相应的瞬态响应。

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