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开发先进器件的挑战
如今,移动网络正向着 6G 和更先进技术发展,能够处理海量数据的人工智能和增强现实应用逐渐渗透到我们的智能手机和物联网设备中。研究人员始终面临的一大挑战是:研发先进的设备功能,以便在设备功能越来越多的情况下以越来越低的功耗实现更高的性能。先进的智能手机和物联网设备设计大量采用新材料、新元器件和新的先进技术,以更经济高效的方式提供更多功能。这些设备采用了全新的工作方式,再依赖传统的 IV 和 CV 测量已经无法确定设备特征和验证可靠性。例如,表征当今设备所需进行的先进测量包括:
它们的模块化程度也不够,无法添加这些先进测量选件。显然,研究人员和教育工作者需要一种新的仪器来表征下一代智能手机和物联网设备。他们需要更快、更高效的方法来表征和评测材料和半导体器件,以及有源/无源器件。面对先进器件的测试挑战,B1500A 帮您做好准备轻松应对Keysight B1500A 半导体器件分析仪是一款综合解决方案,能够简单、快速和准确地执行复杂测量,加速先进器件的研发和相关教育。测量功能非常丰富,从基本的 IV 和 CV 测量到高级测量(例如脉冲 IV、超快速NBTI/PBTI、RNT 测量等)应有尽有,可以满足您的所有测量需求。
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