购买B1500A非易失性内存（NVM）测试方案，节省15%费用
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在先进非易失性存储器 (NVM)测试配置中使用 B1500A，节省 15% 的费用
开发先进 NVM 的挑战
如今，智能手机、物联网/5G、云、大数据和人工智能 (AI) 等技术蓬勃发展，产生了大量的数据。为了存储如此海量的数据，业界亟需采用更先进的存储器技术。开发人员现在正在对 ReRAM、PCRAM、FeRAM 等先进的NVM 展开广泛研发，目的是扩大更低功耗存储和存储级内存的应用，并通过提高速度、性能、可靠性以及降低功耗和成本来替代传统的易失性存储器。为了推动高性能和高可靠性的先进 NVM 尽早上市，开发人员必须对其进行准确、快速和有效的评测。
面对先进 NVM 的测试挑战，B1500A 帮您做好准备轻松应对
Keysight B1500A 是一款单机方案能够简单、快速和准确地执行复杂测量，更快完成先进 NVM 的评测。该解决方案将源表模块 (SMU)、波形发生器/快速测量单元 (WGFMU)、高压半导体脉冲发生器单元 (HV-SPGU) 和 EasyEXPERT group+ 软件整合在一起。可在各种条件下进行快速脉冲 IV 测试，实现精确表征。
- 能够以最小 1 μA 的量程测量小电流，在大电阻（小泄露）状态下也能实施准确表征。
- 拥有最小 10 ns 的分辨率和最高 200 MSa/s 的采样率，能够执行快速测量，更好应对快速瞬态响应。
- 没有负载线路效应，能够在接近真实的工作条件下进行准确表征。
- 输出电压高达 ± 40 V，能够支持各种先进 NVM 的评测。
- 通过以下功能加快耐用性测试，快速准确地预测使用寿命：
- 利用三级脉冲减小写入—擦除周期的开销。
- 在写入—擦除压力循环测试中进行快速准确的疲劳表征。
- 通过以下功能省时省力地完成测量和分析：
- 为先进 NVM 测试提供现成的应用程序。
- 自动测试序列无需编程即可提供强大的数据分析。
- 无需更改接线即可在 DC-IV 和快速脉冲 IV 测试之间自动切换。
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