ZA0095A 印刷电路板(PCB) 测试解决方案
技术概述
ZA0095A 印刷电路板(PCB)测试解决方案 - 用于 Delta-L 4.0 损耗和 Dk/Df 材料提取
印刷电路板（PCB）市场趋势
随着数字系统数据速率的不断提高，确保PCB良好的信号完整性性能变得越来越重要。信道损耗是要测量的重要参数之一，以满足高速I/O的信号完整性要求。选择正确的PCB材料,对于避免昂贵的过度设计或面临性能问题的风险非常重要。精确高效的PCB损耗测量方法对于系统设计人员或PCB制造商来说非常重要。
什么是 Delta-L？为什么需要Delta-L测量？
由于I/O速度的提高，IPC-TM-650方法2.5.5.12中现有的IPC时域测试方法已不足以解决高速应用中PCB损耗测量所面临的问题。
英特尔数据中心事业部（DCG）SI 团队 首先推出了 Delta-L+ 方法来缩小差距。它已在整个行业中广泛应用，同时在IPC测试方法2.5.5.14中得到采用。 英特尔 PCB 供应链需要在批量生产中执行此测试。
英特尔 Delta-L 4.0方法：
- 提供精确的夹具去嵌, 提取完整的S 参数
- 启用材料提取（Dk/Df）
- 一种灵活有效的方法：通过少量试样，监控大批量生产制造过程。
是德科技 ZA0095A 印刷电路板测试解决方案
认识到这种新兴的 PCB 测试需求，是德科技现在基于VNA平台，通过ZA0095A PCB测试方案中的Delta-L 和 Dk/Df 选项，实现对英特尔 Delta-L 4.0 测量的支持，频率高达 40GHz 。这是满足PCB制造商基于VNA平台，同时实现阻抗测试、PCB损耗测量和材料Dk/Df提取的完整解决方案。
完整印刷电路板测试解决方案满足PCB厂商 的需求
- 材料选择
- 电路板抽样测试
- 大批量产线测试
用于第三方软件集成的应用程序编程接口 （API）
是德科技为 Delta-L 和 Dk/Df 测量提供 API，我们的解决方案合作伙伴可以使用这些 API 将这些测量集成到其现有的 PCB 测试的图形化用户界面（GUI）软件中。
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