Keysight Medalist i1000D 在线测试系统
技术资料
Keysight Medalist i1000D
在线测试器 (ICT) 通过为电子设备制造商提供更容易和成本更低廉的数字器件测试而重新定义了数字测试。
Keysight Medalist i1000D 现在做得更好。通过对以前仅有模拟 ICT 状态的改进，现在，系统新的数字卡采用每一引脚都可编程特征，新的整套直观软件图形用户界面 ( GUI )，从而使编程和开发易如反掌。凭借其新的数字能力，Medalist i1000D 现在可以在一个低价的长线测试夹具上执行基于数字 PCF / VCL库的测试，边界扫描和 I2C / SPI 串行编程。这就为正在寻找更好测试覆盖而不增加成本的客户提供一个极好的机会。
i1000D 的数字子系统承继业内领先Medalist i3070 ICT 的简洁性和强大能力，使客户只需点击几次鼠标，就能调整测试速度和驱动及接收电压。
系统聚焦
易于使用
通过保留较早 U9401/2A 款型简单而直观的特点，新的 Medalist i1000D 软件库中增加了许多新的功能，使数字测试的开发和调试就像写 ABC 那样容易。遵循典型的制造缺陷分析仪的开发模式，用户现在只需短短几天时间，就能完成夹具，程序和上线运行。在需要进行数字测试时，只需用新的开发者 GUI 指定测试库和分配电源，而让 i1000D 软件休息。
只需使用全套菜单和按钮，用户就能用简洁的 GUI 在调试过程中迅速改变各项测试，从而完成自动调试功能。这样，无经验的用户即可很快开始使用系统。有了Medalist i1000D，就能通过按一个按钮调试不加电的无源模拟元件，所以即使只有有限的 ICT 操作经验，也能在几小时内完成全套模拟测试的调试。
自动调试功能精心调整测试，使电路板能可靠地通过生产线。用统计测量 (CPK) 确定测试的稳定性。这种自动功能特性可把常规调试过程从几天缩短到仅需几个小时。
许多用户都认为数字测试很复杂，往往难以理解和调试。i1000D 使事情为之不同。数字调试 GUI 承继传奇式 i3070按钮调试 GUI 的控制方式和灵活性，工程技术人员能完全控制数字测试参数和测试源代码，因此参数和代码极易理解。其实现方式是把复杂的数字测试源代码行变成简单而容易理解的图形化波形。工程技术人员进行调试时不涉及大量的代码行。
VTEP v2.0 测试套件
i1000D 配有 Keysight 获奖的 Medalist VTEP v2.0 加电无矢量测试套件。该套件包括网络参数测量，iVTEP 和原 Medalist VTEP 技术。这一强大套件超过传统 Keysight Testjet 能力，并证明可提供比传统数字库测试更好的测试覆盖。Medalist i1000D 已具备覆盖扩展能力。有了覆盖扩展技术 1，测试覆盖不再受限于测试接入能力或库适用性。用覆盖扩展对器件进行 VTEP 测试不需要物理测试接入，从而降低了成本，也减少了印制板组件上需要的测试点数量。
另一项业内首创的网络参数测量技术用于探测电源和接地引脚的缺陷，而让iVTEP 集中进行集成电路 (IC) 信号引脚上的超低值测量 (<5fF)。此外，拥有作为核心的原 Medalist VTEP 意味着测量可达到更好的 4 倍灵敏度和 5 倍标准偏差。随着缩小封装尺寸和提高信令速度上的技术进步，将需要用 VTEP v2.0 应对当前和未来的挑战。
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