应用指南
互补型金属 - 氧化物 - 半导体 (CMOS) 场效应管 (FET) 技术仍然是大规模集成电路,如微处理器和存储器器件的基础。CMOS技术现在已渗入人们的日常生活,如移动电话,高清电视和电脑。
改进 CMOS器件性能的主要挑战来自两个相悖的目标: 高速和低耗。为同时实现这两个目标,研究人员需要全面表征 MOSFET器件参数。不仅要表征静态特性,而且还要表征器件的动态特性和与时间相关的特性。
近 20 年来,Keysight 4155 和 4156 半导体参数分析仪始终是工业界的标准仪器。
Keysight B1500A半导体器件分析仪更是具有精确表征先进 CMOS器件所需测量能力的新一代半导体参数分析仪。
请下载指南并全面了解 B1500A半导体器件分析仪的主要性能特性,以及作为 CMOS器件电性表征的全面解决方案。
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