晶圆级元器件测量
手册
晶圆级元器件测量
是德科技与 Cascade Microtech
可靠的配置、安装和支持可以确保精确且可重复的晶圆级元器件测量
确保测试系统技术指标满足放大器、混频器和滤波器等元器件的晶圆级测量要求十分困难，包括多种类型元器件的单一晶圆无冗余进一步增加测量难度。验证元器件需要执行广泛且复杂的测试，包括 S 参数、直流参数、噪声参数、增益压缩和互调失真等。测量和校准精度非常重要，关联多个地点的测试结果时尤其需要精确的校准。
配置系统以应对上述测量挑战必须指定和购买多家供应商的仪器、晶圆探头台、射频与直流探头以及软件，然后集成硬件与软件并在测试第一个器件前现场验证测试系统。您可能需要数周甚至数月的时间才能信心十足地执行测量，并确保不同地点的数据相关联以及测量精度。
是德科技与 Cascade Microtech 提供集成晶圆级元器件测量系统以及保证的配置、安装和支持，能够帮助您应对挑战。Cascade Microtech 出色的晶圆级探测台、微波与直流偏置探头和工具，结合是德科技的测试仪器以及测量与分析软件，能够提供覆盖所有元器件的全面测量。
典型晶圆级元器件测量系统包括 Keysight PNA 或 PNA-X 微波网络分析仪、N6705B 直流功率分析仪和 Keysight WaferPro Express（WaferPro-XP）测量软件平台，以及 Cascade Microtech Summit 或 Elite 半自动晶圆探测台与 300mm Infinity 晶圆探头、WinCal XE 校准软件和阻抗标配件基片（ISS）校准。
测量自动化是生产与研发领域保证效率和精度的关键。WaferPro-XP 支持您快速设置并执行自动晶圆级测量。WaferPro-XP 的界面和工作流程已针对 Cascade Microtech 半自动探头台进行优化。
为确保所有组件和集成系统满足客户应用需求，Cascade Microtech 与是德科技在交付产品前都会预先验证系统配置。Cascade Microtech 解决方案专家负责安装、训练和验证系统 S 参数以及直流参数性能，是德科技解决方案专家负责验证可选应用功能。
系统安装将完全遵循协商一致的验收标准。并且，客户只需联系 Cascade Microtech 即可获得全面的支持，进而快速解决发现的问题。此外，Cascade Microtech 和是德科技组建了晶圆级测量解决方案专家团队，可以与客户共同优化系统，以契合客户持续变化的元器件测量要求。
Cascade Microtech 与是德科技提供保证的配置、安装与支持，能够确保晶圆级元器件测量系统满足您的测试精度以及可重复的性要求，从而快速且自信地在一地点开展第一次测量，并关联不同地点的测量数据。
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