Column Control DTX
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如何进行电磁干扰(EMI)测试

PXA 信号分析仪
+ PXA 信号分析仪

使用时域扫描方法执行实时 EMI 测试

在测试电子器件的 EMI 合规性时,您需要测量被测设备(EUT)在正常运行状态下产生的辐射发射(RE)和传导发射(CE)。 您必须按照 EMI 测试标准的规定进行测量,检测和分析在每个频率上很长一段驻留时间内的间歇性干扰信号。 使用时域扫描(TDS)和实时扫描(RTS),以及高达 350 MHz 的高度重叠快速傅立叶变换(FFT)分析带宽,准确捕获和测量无间隙脉冲信号。

在检测被测器件(EUT)收到的 EMI 干扰信号时,您可以使用具有宽带数字 IF 硬件和宽带时域扫描功能的 EMI 接收机,将单段中的数据捕获带宽提高至 350 MHz。 通过设置“保持数量”(hold number)和“最大保持现有信号”(maximum hold incumbent signals),可以让接收机连续扫描输入信号,并显示所有检测到的信号的全部事件和细节。 使用 EMI 测量软件查看峰值和瀑布迹线。

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EMI 预兼容和合规性测试解决方案

EMI 预兼容和合规性测试解决方案

EMI 预兼容和合规性测试需要对间歇性干扰信号进行测量、检测和分析。 Keysight EMI 测试解决方案包括是德科技信号分析仪、EMI 接收机和 EMI 分析软件,它们可以帮助您确认产品的性能,以及产品是否符合相应监管机构的 EMC 标准,例如 CISPR 16-1-1 和 MIL-STD-461 标准。 Keysight EMI 预兼容和合规性测试解决方案具有实时扫描(RTSC)和加速时域扫描(A-TDS)功能,可以帮助您快速诊断故障并识别可疑干扰。
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