专为验证相干可插拔模块而量身定制

S1205A 解决方案专为测试拥有 50GAUI-1、100GAUI-2、200GAUI-4 和 400GAUI-8 客户端接口的收发信机量身定制;对线路侧,它使用了高达 74 Gbaud 的相干调制。 例如,QSFP-DD 可插拔模块可依照 OIF 400ZR、IEEE 400GBASE-ZR 或 400ZR+ MSA 规范进行测试。

用于 400ZR 可插拔模块的完整测试解决方案

Keysight S1205A 是一个用于验证 400ZR 可插拔模块的全方位测试解决方案,其中包含下列测试:

  • 光发射机测试(EVM、载波频偏 I/Q 和极化偏移、OSRN、Rin 等)。
  • 功能测试(模块物理层压力测试、CMIS 测试、诊断监测)

这款解决方案专为 400ZR 多厂商互操作性测试量身定制,经过简化后还可用于全自动生产测试。

完整的 400ZR 可插拔模块测试解决方案
N4391B 光调制分析仪

测试即将推出的 800ZR 和 800LR 收发信机

新一代 800G 相干链路的标准化工作正在进行中,建议的符号率将会翻倍,达到 120 GBd。 是德科技已经为这些技术准备好了设计和验证工具。 例如,G800GE-02 与 N4391B 光调制分析仪配合使用,能够测试 400G 和 800G 相干可插拔模块以及 C 频段(800ZR)和 O 频段(800LR)的元器件。

扩展您的测试能力

通过选用合适的附件,可以更充分地发挥现有硬件的功能,从而提高生产效率并加快产品开发速度。

N7731C 双通道 1x4 光开关

  • 可重复性:± 0.007 dB;±0.005 dB 典型值(1310 nm,1550 nm)
  • 使用寿命:> 10 亿次
  • 1250 nm 至 1650 nm 工作波长范围
  • FC/APC 连接器接口——斜角窄键

N7761A 单通道可变光衰减器:

  • 建立时间:20 ms 衰减,100 ms 功率
  • 0.1 至 1000 dB/s 衰减跳变速度(可选)
  • +23 dBm 输入功率
  • ≤ 1.2 dB 插入损耗

关于光收发信机测试解决方案的特色资源

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